新生儿惊厥是新生儿期（出生后28天内）发生的惊厥发作，常见原因包括围产期缺氧缺血、电解质紊乱（如低血糖、低钙血症）、中枢神经系统感染、先天脑结构异常及遗传代谢病等。
一、围产期脑损伤相关
围产期缺氧缺血（如窒息）导致脑能量代谢障碍，神经元异常放电。早产儿及有宫内窘迫史新生儿风险较高，需及时评估出生时Apgar评分及血气指标。
二、电解质与代谢异常
新生儿低血糖（血糖<2.6mmol/L）或低钙血症（血钙<1.75mmol/L）可引发神经兴奋性增高。喂养延迟或早产婴儿易发生低血糖，需监测血糖及电解质水平。
三、中枢神经系统感染
脑膜炎、脑炎由细菌或病毒感染引起，常伴随发热、嗜睡、呕吐等症状。新生儿免疫功能低下，血培养、脑脊液检查是诊断关键，需尽早抗感染治疗。
四、先天脑结构与遗传因素
脑发育畸形（如脑积水）、染色体异常或遗传代谢病（如苯丙酮尿症）导致神经元连接异常。家族中有惊厥史者需基因筛查，出生后早期干预可改善预后。
温馨提示：新生儿惊厥需立即就医，家长应保持冷静，避免强行束缚，记录发作时间及表现，为诊断提供依据。临床治疗以病因治疗为主，优先控制发作，避免脑损伤加重。
