发布于 2024-12-28
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复旦大学附属华山医院 神经外科
小脑扁桃体下疝畸形可以通过X线检查、磁共振成像检查、遗传学检查等方法进行诊断。
1、X线检查
小脑扁桃体下疝畸形可以通过X线检查发现枕骨大孔疝畸形、脊柱畸形等现象。
2、磁共振成像检查
小脑扁桃体下疝畸形可以通过磁共振成像检查,可发现小脑扁桃体下缘超过颅底点至颅后点的连线3mm-5mm,可作为诊断依据。
3、遗传学检查
小脑扁桃体下疝畸形可能与基因突变有关,患者可以通过遗传学检查发现分子遗传学机制。
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